Műegyetemi kutatók könyvét jelentette meg a Springer kiadó

„Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components” címmel megjelent Rencz Márta, Farkas Gábor, Poppe András könyve.

 

Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components” című könyv arról szól, hogy hogyan használható a termikus tranziens tesztelés elektronikai alkatrészek (félvezető eszközök: tokozott diódák, tranzisztorok, integrált áramkörök) és rendszerek vizsgálatára. A könyv egyetemi tankönyvnek készült, de várhatóan hathatós segítség lesz az elektronikai termikus problémáival – méréssel, modellezéssel, szimulációval - foglalkozó gyakorló mérnökök számára is.

A könyv leírja a félvezető eszközöktermikus tranziens mérésének elméleti hátterét, az alkalmazott matematikai modelleket, és az eljárásokat, amivel egy tokozott eszköz szerkezeti integritását lehet ellenőrizni, azaz a hőáramlás útjába eső rétegek paramétereit lehet mérni és a mérési eredmények alapján akár automatikus eljárások segítségével modellezni. A módszer alkalmazása nem mindig egyszerű. A különféle  elektronikus eszközök (pl. diódák, tranzisztorok, ún. széles tiltott sávszélesség félvezető anyagokból készült eszközök, kondenzátorok, LED-ek, stb) termikus karakterizálása a közös elvi alapokon nyugvó mérés gyakorlati megvalósításának különböző módszereit igényli. A könyv egyik fő erőssége éppen ezért az, hogy egyes eszközök méréséhez, mérési eredmény kiértékeléséhez példákkal illusztrált gyakorlati útmutatókat ad. A termikus tranziens tesztelés  módszerét az elektronikai ipar napi gyakorlatában szokásos, szabványos fárasztási/öregítési eljárásokkal alkalmas módon kombinálva megállapításokat tehetünk például az eszközök megbízhatóságára. A mérési és adatkiértékelési módszer alkalmas továbbá a gyártás pontosságára vonatkozó következtetések levonására pl. gyártásközi, ún. in-line tesztelés során, a félvezető eszközök aktív rétege hűtését szolgáló megoldások vizsgálatára, vagy akára termikus szimulációkhoz használt modellek helyességének ellenőrzésére, ilyen modellek paramétereinek automatikus meghatározására is. A könyv részletesen tárgyalja a módszer legfontosabb alkalmazási területeit és ezek sajátosságait.

A számítástechnikai eszközök, a szilárdtest világítástechnika, vagy éppen a teljesítmény elektronikai területén is tapasztalhatjuk a felvett elektromos teljesítmények szintjének növekedését, ami jellemzően együtt jár a keletkező és hő formájában távozni kényszerülő veszteség abszolút értékének a növekedésével. Mindez kombinálva például a töretlenül folytatódó miniatürizációval és az egyre újabb és újabb elektronikai rendszerek megbízhatóságával kapcsolatos igények folyamatos növekedésével, nagy kihívást jelent az elektronikai rendszereket tervező mérnöki csapatok számára. Az ezen kihívásokra történő adekvát válaszok az elektronika minden területén egyre kifinomultabb termikus vizsgálati módszereket, mérési, modellezési és szimulációs eljárásokat igényelnek..  A könyv ezek megtalálásos ad hathatós támogatást, építve és bemutatva a villamosmérnöki és gépészmérnöki ehhez szükséges alapismereteit is.

A könyv szerkesztői:

 

Rencz Márta egyetemi tanár, VIK, Elektronikus eszközök Tanszéke

Farkas Gábor tiszteletbeli docens VIK, Elektronikus eszközök Tanszéke

Poppe András egyetemi tanár, tanszékvezető VIK, Elektronikus eszközök Tanszék

Az egyes fejezetek szerzői a szerkesztőkön túl dr. Vass-Várnai András. a SIEMENS Digital Industry Software USA félveztőipari üzletfejlesztési menedzsere és Sárkány Zoltán, a SIEMENS Digital Industry Software Magyarország teremikus tesztelési termékmenedzsere; a BME VIK Elektronikus Eszközök Tanszéke doktorandusz alumnuszai.

A kiadó ajánlója szerint, ez a könyv felbecsülhetetlen értékű referencia a gyakorló mérnökök, hallgatók és kutatók számára, amely az elektronika termikus jellemzésének ma rendelkezésre álló legfontosabb módszerét, a termikus tranziens tesztelést tárgyalja.

 

Rektori Kabinet Kommunikációs Igazgatóság-KJ